Morphological and X-ray diffraction analysis of CH3NH3PbI3 perovskite semiconductor

Abstract

CH3NH3PbI3 perovskite semiconductor is considered very promising for use in photovoltaics. Large family of perovskites includes insulating, antiferromagnetic, piezoelectric, thermoelectric, superconductive, conductive and semiconductive materials. Semiconductive perovskites used in photovoltaics have important advantages such as processability from solutions at room temperature, low price, and tunability of optical and electrical properties by chemical methods, including color tunability. Therefore, the initial study of this material was focused on Röntgen phase analysis. It was observed that at perovskite concentration of 40 % wt. with 1:1 rate of PbI2:CH3NH3I just a part of leadiodide has reacted and it wasn’t completely compensated. A comparison of the obtained results with literature data is presented.

Perovskit semiconductor CH3NH3PbI3 este considerat foarte promiţător pentru utilizarea în fotovoltaică. Familie mare de perovskite include materiale izolatoare, antiferomagnetice, piezoelectrice, termoelectrice, supraconductoare, conductoare şi semiconductoare. Perovskite semiconductoare utilizate în fotovoltaică au avantaje importante, cum ar fi prelucrabilitate din soluţii la temperatura camerei, preţ scăzut şi setarea proprietăților optice și electrice prin metode chimice, inclusiv şi setarea culorii. Prin urmare, studiul inițial al acestui material a fost concentrat pe analiza fazică Röntgen. A fost observat că pentru concentraţia masică a pervoskitului de 40 % cu proporţia 1:1 de PbI2:CH3NH3I doar o parte din iodură de plumb a reacţionat şi el nu a fost compensat în totalitate. Este prezentată comparaţia rezultatelor obţinute cu datele din literatură.