Packaging of nanodevices and reliability

Abstract

A scientific and technical revolution has begun that is based upon the ability to systematically organize and manipulate matter on the nanometer length scale, but the nanodevices packaging is an important source of failure risks. We do not have a great deal of information about the useful life of these sophisticated products even though they are flooding the market. Conventional reliability theories need to be restudied to be applied to nano-engineering. A confident use of these technologies relies on our capacity to better understand their fault mechanisms, and our ability to deduce related fault models.

Revoluţia ştiinţifică şi tehnică care a început se bazează pe capacitatea de a organiza şi manipula sistematic obiecte de dimensiuni nanometrice. Însă încapsularea dispozitivelor nano este o sursă importantă pentru analiza defectărilor. Nu dispunem de un prea mare număr de informaţii cu privire la durata de viaţă utilă a acestor produse sofisticate, cu toate cestea, ele au invadat piaţa. Teoriile convenţionale ale fiabilităţii trebuie restudiate pentru a putea fi folosite în ingineria nano. Folosirea cu încredere a acestor tehnologii depinde de capacitatea noastră de a înţelege mai bine mecanismele lor de defectare şi de a deduce respectivele modele de defectare.

La révolution scientifique et technique qui a commencé est basée sur la capacité d’organiser et manipuler systématiquement les objets ayant des dimensions nanométriques; mais l’encapsulation des nanodispositifs este une source importante pour l’analyse des défauts. Nous ne disposons pas d’un grand nombre d’informations concernant la durée de vie utile de ces produits sophistiqués, bien qu’ils ont commencé à inonder le marché. Les théories conventionnelles de la fiabilité doivent être à nouveau étudiées afin de pouvoir être utilisées dans l’ingénierie nano. L’utilisation pleine de confiance de ces technologies dépend de notre capacité de mieux comprendre leurs mécanismes de défaillance et de déduire les respectifs modèles de défaillance.

Научно-техническая революция, которая началась, основана на способности систематически организовать и управлять материей на нанометровом масштабе длины. Однако упаковка наноустройств является важным источником анализа отказов. У нас нет много информации относительно полезного срока службы этих сложных продуктов, однако они наводняют рынок. Обычные теории надежности должна быть заново изучены чтобы использовать их в нано-технике. Уверенное использование этих технологий зависит от наших способностей лучшего понимания механизмов их отказа и вывести соответствующие моделей отказа.