VERJBIŢKI, Valeri; LUPAN, Oleg; RAILEAN, Serghei
(Agenţia de Stat pentru Proprietatea Intelectuală a Republicii Moldova, 2018-07-31)
Invenția se referă la domeniul tehnicii de măsurare și poate fi utilizată în aparate de măsurat, în care se utilizează senzori pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi. Dispozitivul de măsurare a parametrilor ...