Система для обнаружения дефектов заготовок

Abstract

В данной работе представлены результаты проектирования системы распознавания образов для обнаружения дефектов заготовок. Алгоритм обнаружения дефектов основан на спектральном анализе отраженного потока света от исследуемой поверхности заготовки. Для оценки отраженного спектра, на поверхность заготовки, направляется поток света изменяемый в интервале частот видимого спектра. Дефект заготовки оценивается в зависимости от коэффициента отражения и изменения спектра отражённого светового потока.