Dispozitive pentru măsurarea parametrilor senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi

Abstract

Dispozitivele includ o sursă de tensiune de referinţă Uref, tensiune căreia se aplică la întrarea unuia din din comvertorii analog-digitali (ADC) ai unui microcontroler printrun amplificator operaţional care este conectat în serie cu o nanostructură cercetată Rx şi un rezistor suplimentar R0, iar căderea de tensiune pe rezistorul suplimenta R0 se aplică la întrarea unui al doilea convertor ADC al microcontrolerului prin cel de-al doilea amplificator operaţional. Ieşirea microcontrolerului este conectată la un ecran pentru afişarea rezultatelor obţinute.

The devices include a Uref reference voltage source, which voltage is applied to the input of one of the analogue-to-digital (ADC) converters of a microcontroller via an operational amplifier which is connected in series with a resected nanostructure Rx and an additional R0 resistor, and the voltage drop on the supplementary resistor R0 is applied to the input of a second ADC converter of the microcontroller through the second operational amplifier. The output of the microcontroller is connected to a screen to display the results obtained.