Metodă nouă de înregistrare a spectrelor de interferenţă ale cristalelor birefringente

Abstract

Fenomenul de interferenţă al razelor polarizate în cristalele monoaxiale, care posedă birefringenţă <Δn(λ)> şi activitate optică, este condiţionat de faptul, că în cristal se propagă două unde polarizate eliptic. Deplasarea fazelor (ΔФ) undelor polarizate se determină de diferenţa indicilor de refracţie ai acestor unde. În spectrele cristalelor poziţionate între polarizatori perpendiculari sunt depistate benzi caracteristice ale interferenţei birefringenţei. A fost elaborat un sistem, care modifică semnul semiundei negativ în pozitiv, în spectrele de interferenţă. Aceasta permite de a determina mult mai precis poziţia benzilor de interferenţă şi dea calcula mai precis dependenţa spectrală a indicelui de refracţie n şi diferenţa indicilor de refracţie Δn=nо-ne.

The phenomenon of interference of polarized beams in uniaxial crystals, which possesses possessing birefringence <Δn(λ)> and optical activity, is conditioned by the fact that two elliptically polarized waves propagate in the crystal. The phase shift (ΔФ) of polarized waves is determined by the difference of the refractive indices of these waves. Characteristic bands of birefringence interference are detected in the spectra of crystals positioned between perpendicular polarizers. It was developed a system that changes the half-wave negative sign into positive one in the interference spectra. This allows to determine more accurately the position of interference bands and give a more precise calculation of the spectral dependence of the refractive index n and the difference of the refractive indices Δn=nо-ne.