DSpace Repository

Sistem optoelectronic pentru măsurarea diametrului miezului şi grosimii învelişului din sticlă a microfirelor

Show simple item record

dc.contributor.author DOROGAN, Valerian
dc.contributor.author ZAPOROJAN, Sergiu
dc.contributor.author LARIN, Vladimir
dc.contributor.author VIERU, Tatiana
dc.contributor.author DOROGAN, Andrei
dc.contributor.author CALMÎCOV, Igor
dc.contributor.author VIERU, Stanislav
dc.contributor.author MUNTEANU, Eugen
dc.contributor.author SECRIERU, Vitalie
dc.date.accessioned 2022-09-15T09:21:33Z
dc.date.available 2022-09-15T09:21:33Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.citation DOROGAN, Valerian, ZAPOROJAN, Sergiu, LARIN, Vladimir et al. Sistem optoelectronic pentru măsurarea diametrului miezului şi grosimii învelişului din sticlă a microfirelor. In: PROINVENT 2013. Salonul internaţional al cercetării ştiinţifice, inovării şi inventicii. 19 - 22 martie 2013, ed. 11, Cluj-Napoca, Romania, 2013, p. 221. ISBN 978-973-662-812-2. en_US
dc.identifier.isbn 978-973-662-812-2
dc.identifier.uri http://repository.utm.md/handle/5014/21212
dc.description Lucrare în curs de brevetare. Domeniile de aplicabilitate: Automatizări, electronică aplicată. en_US
dc.description.abstract Sistemul este constituit în baza a două surse de radiaţie optică cu diferite lungimi de undă şi două fotoreceptoare ajustate pentru recepţia radiaţiei emise. Diametrul miezului metalic şi grosimea învelişului din sticlă este determinat prin diferenţa semnalelor optice recepţionate, cauzată de absorbţia radiaţiilor emise în miezul metalic şi învelişul din sticlă al microfirului. În comparaţie cu metodele existente sistemul posedă performanţe superioare (exactitate sporită şi posibilitate de măsurări pe segmente foarte mici). en_US
dc.description.abstract The system consists of two optical radiation sources of different wavelength and two photoreceivers, which are tuned for emitted radiation detection. The diameter of nucleus and the thickness of glass coating are determined via the difference of received optical signals. The last is because of the absorption of the emitted radiation in the metallic nucleus and in the glass coating of the microwire. Compared with existing methods, the system has higher performance (enhanced accuracy and capability of measurement on very small segments). en_US
dc.language.iso en en_US
dc.language.iso ro en_US
dc.publisher Universitatea Tehnică din Cluj-Napoca en_US
dc.rights Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.subject invenţii en_US
dc.subject inventions en_US
dc.subject microfire cu înveliş din sticlă en_US
dc.subject sisteme optoelectronice en_US
dc.subject microwires en_US
dc.subject optoelectronic systems en_US
dc.title Sistem optoelectronic pentru măsurarea diametrului miezului şi grosimii învelişului din sticlă a microfirelor en_US
dc.title.alternative Optoelectronic system for measuring the nucleus diameter and glass thickness in the microwires en_US
dc.type Article en_US


Files in this item

The following license files are associated with this item:

This item appears in the following Collection(s)

  • 2013
    Ediţia XI-a, 19- 22 martie

Show simple item record

Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account