DSpace Repository

Determinarea indicelui de refracţie în ghidurile de undă planare

Show simple item record

dc.contributor.author DOROGAN, A.
dc.contributor.author DOROGAN, V.
dc.contributor.author PARVAN, V.
dc.contributor.author SÎRBU, N.
dc.date.accessioned 2022-09-16T05:55:24Z
dc.date.available 2022-09-16T05:55:24Z
dc.date.issued 2012
dc.identifier.citation DOROGAN, A., DOROGAN, V., PARVAN, V. et al. Determinarea indicelui de refracţie în ghidurile de undă planare. In: PROINVENT 2012. Salonul internaţional al cercetării ştiinţifice, inovării şi inventicii. 27 - 30 martie 2012, ed. 10, Cluj-Napoca, Romania, 2012, p. 240. ISBN 978-973-662-709-5. en_US
dc.identifier.isbn 978-973-662-709-5
dc.identifier.uri http://repository.utm.md/handle/5014/21235
dc.description În curs de brevetare. Domeniile de aplicabilitate: Nanoelectronică, optoelectronică, microelectronică, proces didactic. en_US
dc.description.abstract Ghidurile de undă nanostratificate cu gropi cuantice posedă proprietăţi de birefringenţă, chiar şi cele pe baza materialelor izotrope [1 - 3]. Cele mai sensibile metode de studiu al proprietăţilor de birefringenţă în nanoghiduri sunt metodele spectroscopiei de interferenţă. O imagine tipică a interferenţei poate fi observată în spectrele de interferenţă ale nanostructurilor birefringente. Metoda elaborată permite analiza dependenţei spectrale a indicelui de refracţie pentru undele luminoase ordinară (Ер) şi extraordinară (Еs) din spectrele de interferenţă ale absorbţiei sau reflexiei nanostraturilor. Poziţia maximelor sau minimelor ale spectrelor de interferenţă pot fi determinate utilizând un soft simplu („Origin”) pentru calculator. en_US
dc.description.abstract Nanolayered waveguides with quantum wells possess birefringence properties, even those based on isotropic materials [1 - 3]. The most sensitive methods of studying birefringence properties in nanowaveguides are the methods of interference spectroscopy. A typical image of interference can be observed in the interference spectra of birefringent nanostructures. The elaborated method permits to analyze the spectral dependence of the refractive index for the ordinary (Ер) and extraordinary (Еs) lightwaves from absorption or reflection interference spectra of nanolayers. The maxima and minima positions of the interference spectra can be determined using simple PC software „Origin”. en_US
dc.language.iso en en_US
dc.language.iso ro en_US
dc.publisher Universitatea Tehnică din Cluj-Napoca en_US
dc.rights Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.subject invenţii en_US
dc.subject inventions en_US
dc.subject ghiduri de unde planare en_US
dc.subject ghiduri de unde nanostratificate en_US
dc.subject birefringenţă en_US
dc.subject interferenţă en_US
dc.subject indice de refracţie en_US
dc.subject nanolayered waveguides en_US
dc.subject birefringence en_US
dc.subject interference spectroscopy en_US
dc.subject refractive indexes en_US
dc.title Determinarea indicelui de refracţie în ghidurile de undă planare en_US
dc.title.alternative Determination of refractive index in planar waveguides en_US
dc.type Article en_US


Files in this item

The following license files are associated with this item:

This item appears in the following Collection(s)

  • 2012
    Ediţia X-a, 27 - 30 martie

Show simple item record

Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account