DSpace Repository

Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor

Show simple item record

dc.contributor.author VERJBIŢKI, Valeri
dc.contributor.author LUPAN, Oleg
dc.contributor.author RAILEAN, Serghei
dc.date.accessioned 2022-09-21T10:03:41Z
dc.date.available 2022-09-21T10:03:41Z
dc.date.issued 2019
dc.identifier.citation VERJBIŢKI, Valeri, LUPAN, Oleg, RAILEAN, Serghei. Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor. In: INFOINVENT 2019. Expoziţia Internaţională Specializată = International Specialized Exhibition, 20-23 noiembrie 2019, ed. 16: Catalog oficial, Chişinău, Republica Moldova, 2019, p. 87. en_US
dc.identifier.uri http://repository.utm.md/handle/5014/21307
dc.description Brevet: MD 1269. Secţiunea B. Materiale, echipamente şi tehnologii industriale, mecanică, energie, electricitate, electronică. Materials, Equipment and Industrial Technology, Mechanics, Energy, Electricity, Electronics en_US
dc.description.abstract Dispozitivul include o sursă de tensiune de referinţă reglabilă conectată la ieșirea unui microcontroler și unită în serie cu senzorul cercetat și un rezistor de referinţă, punctul de legătură al căruia cu senzorul cercetat este conectat la intrarea microcontrolerului. Metoda constă în măsurarea tensiunii sursei de tensiune de referinţă, măsurarea căderii de tensiune pe rezistorul de referinţă, calcularea căderii de tensiune pe senzor. Se calculează valoarea curentului care trece prin nanostructură, puterea aplicată pe nanostructură și se setează valoarea tensiunii de referinţă astfel, încât puterea să nu depășească valoarea maxim admisibilă. en_US
dc.description.abstract The device comprises an adjustable reference voltage source connected to the output of a microcontroller and connected in series to the investigated nanostructured sensor and to the reference resistor, the connection point of which to the investigated sensor is connected to the input of the microcontroller. The method consists in: measuring the voltage of the reference voltage source, measuring the voltage drop across the reference resistor, calculating the voltage drop across the investigated nanostructure. Current fl owing through the nanostructure and the applied power to the nanostructure are calculated and it is set the value of the reference voltage so that the electrical power will not exceed the maximum permitted value. en_US
dc.language.iso en en_US
dc.language.iso ro en_US
dc.publisher Agenţia de Stat pentru Proprietatea Intelectuală a Republicii Moldova (AGEPI) en_US
dc.rights Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.subject invenţii en_US
dc.subject inventions en_US
dc.subject dispozitive de măsurare a rezistenţei en_US
dc.subject senzori pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi en_US
dc.subject resistance measuring devices en_US
dc.subject nanostructured semiconductor oxides-based sensors en_US
dc.title Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor en_US
dc.title.alternative Device and method for measuring the resistance of a sensor based on nanostructured semiconductor oxides in the range of the order of microwatts en_US
dc.type Article en_US


Files in this item

The following license files are associated with this item:

This item appears in the following Collection(s)

  • 2019
    Ediţia a XVI-a, 20 - 23 noiembrie

Show simple item record

Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account