dc.contributor.author | NASTAS, V. | |
dc.date.accessioned | 2019-04-25T14:02:06Z | |
dc.date.available | 2019-04-25T14:02:06Z | |
dc.date.issued | 2009 | |
dc.identifier.citation | NASTAS, V. Simulatoare metrologice de mărimi electrice pasive. In: Meridian Ingineresc. 2009, nr. 3, pp. 19-34. ISSN 1683-853X. | en_US |
dc.identifier.issn | 1683-853X | |
dc.identifier.uri | http://repository.utm.md/handle/5014/2364 | |
dc.description.abstract | Lucrarea de sinteză este dedicată problemelor analizei şi sintezei simulatoarelor metrologice de impedanţă (SMI). Sunt prezentate noţiuni despre mărimile pasive simulate, cerinţele faţă de SMI, clasificarea SMI după criterii relevante. Lucrarea de asemenea conţine analiza şi sinteza SMI în baza structurii clasice şi a SMI cu structură recursivă cu analiza erorii şi a posibilităţilor de utilizare. | en_US |
dc.description.abstract | The review paper is dedicated to metrological imitators of impedance (MII) analysis and synthesis issues. There are presented the basic concepts about the simulated passive values, the requirements for MII as well as their classification according to the essential criterions. The paper also contains the analysis and synthesis of MII on the base of the classical structure and of MII with recursive structure, the analysis of systematic error and of its application. | en |
dc.description.abstract | Le travail de synthèse est dédié aux problèmes d’analyse et de synthèse des simulateurs métrologiques d’impédance (SMI). Sont présentés les concepts de base pour les valeurs passives simulées, les conditions pour SMI et leur classification selon les critères essentiels. Le papier contient également l'analyse et la synthèse de SMI sur la base de la structure classique et de SMI avec la structure récursive, l’analyse de erreur systématique et de possibilités d’utilisation. | fr |
dc.description.abstract | Обзорная работа посвящена вопросам анализа и синтеза метрологических имитаторов импеданса (МИИ). Представлены основные понятия об имитируемых пассивных величинах, требования к МИИ, их классификация по существенным признакам. Также содержится анализ и синтез МИИ на базе классической структуры и ее систематической погрешности, и МИИ с рекурсивной структурой с анализом возможностей применения. | ru |
dc.language.iso | ro | en_US |
dc.publisher | Tehnica U.T.M. | en_US |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | * |
dc.subject | metrological imitators of impedance | en_US |
dc.subject | simulatoare metrologice de impedanţă | en_US |
dc.title | Simulatoare metrologice de mărimi electrice pasive | en_US |
dc.title.alternative | Metrological simulators of electrical passive values | en_US |
dc.title.alternative | Simulateurs métrologiques de valeurs électriques passives | en_US |
dc.title.alternative | Метрологические имитаторы электрических пассивных величин | en_US |
dc.type | Article | en_US |
The following license files are associated with this item: