Dispozitivul de măsurare a parametrilor senzorului pe bază
de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de
ordinul microwaților include o sursă de tensiune de referință
reglabilă, conectată în serie cu un senzor cercetat și o
rezistentă etalon, căderea totală a tensiunii pe senzor și
rezistența etalon și, separat, căderea de tensiune pe
rezistența etalon fiind aplicate la intrările a două
convertoare analogic-digitale ale unui microcontroler prin
două amplificatoare operaționale, ieșirile microcontrolerului
sunt conectate print-un convertor digital-analogic la intrarea
sursei de tensiune de referință reglabilă și la un ecran
pentru afișarea rezultatelor obținute.
The device for measuring parameters of a sensor based on
nanostructured semiconductor oxides in the range of the
order of microwatts comprises an adjustable reference
voltage source, connected in series to a test sensor and a
standard resistance. The total voltage drop across the
sensor and the standard resistance, and separately, the
voltage drop across the standard resistance being applied
to the inputs of two analog-to-digital converters of a
microcontroller through two operational amplifiers, the
outputs of the microcontroller are connected by a digital-to-
analog converter to the input of the adjustable reference
voltage source and to a screen for displaying the obtained
results.