DSpace Repository

Modelizarea defectelor circuitelor integrate analogice

Show simple item record

dc.contributor.author BĂJENESCU, Titu-Marius I.
dc.date.accessioned 2019-02-16T14:46:21Z
dc.date.available 2019-02-16T14:46:21Z
dc.date.issued 2017
dc.identifier.citation BĂJENESCU, Titu-Marius I. Modelizarea defectelor circuitelor integrate analogice. In: Meridian Ingineresc. 2017, nr. 3(66), pp. 11-15. ISSN 1683-853X. en_US
dc.identifier.issn 1683-853X
dc.identifier.uri http://repository.utm.md/handle/5014/388
dc.description.abstract Densitatea integrării microelectronice este limitată de fiabilitatea produsului fabricat, pentru o densitate dată a circuitului. Reguli de proiectare, tensiunea de lucuru și vitezele maxime de comutatre trebuie astfel alese, încât să asigure funcționarea circuitului de-a lungul întregii sale durate de viață. De aceea, pentru a determina performanța de vârf a unui set dat de constrângeri ale proiectării, trebuie modelată fiabilitatea circuitului, pentru condițiile specifice de funcționare. Proiectanții abordează mai degrabă procesul de degradare, pentru a fi siguri că nu există părți inerent vulnerabile ale cipului. Utilizatorii sau proiectanții unui sistem abordează teoria defectării și a ratelor de defectare pentru calificarea fiabilității produsului, presupunând că toate defectările vor fi întâmplătoare și că circuitele nu au un mod dominant de defectare din proiectare. ro
dc.language.iso ro en_US
dc.publisher Tehnica UTM en_US
dc.rights Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.subject analog integrated circuits en_US
dc.subject circuite integrate analogice en_US
dc.title Modelizarea defectelor circuitelor integrate analogice en_US
dc.type Article en_US


Files in this item

The following license files are associated with this item:

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account