Abstract:
În lucrare se analizează autotestarea memoriei incorporate a microcontrolerelor
din familia MSP430 bazată pe metoda de testare pseudo-inelară a dispozitivelor de memorie. Sunt
expuse exemple de programe FLASH şi SRAM de testare a memoriilor microcontrolerului. Sunt
prezentate programe-teste pentru determinarea defectărilor constante ale celulelor memoriei şi
defectărilor legate de înregistrarea (intrarea) multiplă în memorie la viteza maximă.