Autotestarea pseudoinelară a microcontrolerelor nanosatelitului SATUM

Abstract

În lucrare se analizează autotestarea memoriei incorporate a microcontrolerelor din familia MSP430 bazată pe metoda de testare pseudo-inelară a dispozitivelor de memorie. Sunt expuse exemple de programe FLASH şi SRAM de testare a memoriilor microcontrolerului. Sunt prezentate programe-teste pentru determinarea defectărilor constante ale celulelor memoriei şi defectărilor legate de înregistrarea (intrarea) multiplă în memorie la viteza maximă.