Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor

Abstract

Invenția se referă la domeniul tehnicii de măsurare și poate fi utilizată în aparate de măsurat, în care se utilizează senzori pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi. Dispozitivul de măsurare a rezistenței senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaților include o sursă de tensiune de referință reglabilă Uref, conectată la ieșirea unui microcontroler și unită în serie cu senzorul nanostructurat cercetat Rx și un rezistor de referință Ro, punctul de legătură al căruia cu senzorul cercetat Rx este conectat la intrarea microcontrolerului, totodată circuitele comune al rezistorului de referință Ro, sursei de tensiune de referință Uref și ale microcontrolerului sunt unite la pământ.

The invention relates to the field of measuring technology and can be used in measuring instruments that use sensors based on nanostructured semiconductor oxides. The device for measuring the resistance of a sensor based on nanostructured semiconductor oxides in the range of the order of microwatts comprises an adjustable reference voltage source Uref, connected to the output of a microcontroller and connected in series to the investigated nanostructured sensor Rx and a reference resistor Ro, the connection point of which to the investigated sensor Rx is connected to the input of the microcontroller, at the same time the common circuits of the reference resistor Ro, the reference voltage source Uref and the microcontroller are connected to ground.