IRTUM – Institutional Repository of the Technical University of Moldova

Challenges of nanotechnologies and some reliability aspects

Show simple item record

dc.contributor.author BĂJENESCU, Titu-Marius I.
dc.contributor.author BÂZU, Marius I.
dc.date.accessioned 2020-06-11T10:34:05Z
dc.date.available 2020-06-11T10:34:05Z
dc.date.issued 2020
dc.identifier.citation BĂJENESCU, Titu-Marius I., BÂZU, Marius I. Challenges of nanotechnologies and some reliability aspect. In: Journal of Engineering Science. 2020, Vol. 27(2), pp. 62-75. ISSN 2587-3474. eISSN 2587-3482. en_US
dc.identifier.issn 2587-3474
dc.identifier.issn 2587-3482
dc.identifier.uri https://doi.org/10.5281/zenodo.3784350
dc.identifier.uri http://repository.utm.md/handle/5014/8883
dc.description.abstract The article focuses on the analysis of different nanoelectronic architectures with special design rules, taking into account the reliability of the future product. In the next decade, the reliability will play an even bigger role for industries in nanofabrication, which amounts to designing, and manufacturing devices on the nanometre scale. The main thrust in any reliability work is identifying failure modes and mechanisms. This is especially true for the new technology of microelectromechanical systems (MEMS). High reliability is often stressed as an argument for projects in nanotechnology. Despite these claims, only little work has actually been done in the field of reliability in nanotechnology in clear contrast with microelectronics which is now extending its reliability modelling to nanoscaled semiconductor circuits. Nano-manufacturing will provide more twists to the traditional models due to the nature of nano-defects, and Heisenberg uncertainty. Nanotechnology has the potential to create many new materials and devices with wide-ranging applications, such as in medicine, electronics, and energy production. The reliability aspect includes both the electronic and the mechanical parts, complicated by the interactions. The challenging issue in MEMS technology development and commercialization is justifying its reliability. Packaging has often been referred as the “Achilles heel of MEMS manufacturing”. en_US
dc.description.abstract Articolul este axat pe analiza diferitor arhitecturi nanoelectronice cu reguli speciale de proiectare, ţinând cont și de fiabilitatea viitorului produs. În următorul deceniu, fiabilitatea va juca un rol și mai mare pentru industriile din nanofabricare, ceea ce se referă la proiectarea și fabricarea dispozitivelor la scara nanometrică. Principala forţă a oricărei testări de fiabilitate este identificarea modurilor și mecanismelor de avariere. Acest lucru este valabil mai ales pentru noua tehnologie a sistemelor microelectromecanice (MEMS). Fiabilitatea ridicată este adesea subliniată ca argument pentru proiectele din nanotehnologie. În ciuda acestor afirmaţii, în domeniul fiabilităţii în nanotehnologie s-au realizat puţine lucrări, în contrast clar cu microelectronica, care acum își extinde modelarea fiabilităţii la circuitele cu semiconductor nanoscalat. Nano-fabricarea va oferi mai multe reveniri la modelele tradiţionale, datorită naturii nano-defectelor și incertitudinii Heisenberg. Nanotehnologia are potenţialul de a crea multe materiale și dispozitive noi cu aplicaţii largi, cum ar fi în medicină, electronică și producţie de energie. Aspectul de fiabilitate include atât componentele electronice, cât și cele mecanice, cu diverse interacţiuni. Problema provocatoare în dezvoltarea și comercializarea tehnologiei MEMS justifică fiabilitatea acesteia. Ambalajul a fost adesea denumit „călcâiul lui Ahile din fabricaţia MEMS”. ro
dc.language.iso en en_US
dc.publisher Tehnica UTM en_US
dc.rights Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.subject MEMS en_US
dc.subject NEMS en_US
dc.subject nano-objects en_US
dc.subject quantum-dots en_US
dc.subject nanodevices en_US
dc.subject nanoelectronics en_US
dc.subject failures modes en_US
dc.subject microproducts en_US
dc.subject nanosystem products en_US
dc.subject reliability en_US
dc.subject nanoobiecte en_US
dc.subject nanodispozitive en_US
dc.subject nanoelectronică en_US
dc.subject moduri de defectare en_US
dc.subject produse microsistem en_US
dc.subject produse nanosistem en_US
dc.subject fiabilitate en_US
dc.title Challenges of nanotechnologies and some reliability aspects en_US
dc.type Article en_US


Files in this item

The following license files are associated with this item:

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States

Search DSpace


Browse

My Account